半導体チップのトップ教授が米国で20年間過ごした後、母国に戻って教鞭をとる

清華大学のウェブサイトによると、蘇飛氏は現在、清華大学集積回路学院の終身教授であり、興華基金教授の職に就いている。蘇氏は同学院で1999年に学士号、2001年に修士号を取得し、2006年にはデューク大学（米国）で電気・コンピュータ工学の博士論文審査に合格した。

蘇飛教授の主な研究分野は、ICテスト、テスト容易性と信頼性のための最適設計（DFX）、シリコンライフサイクル管理（SLM）です。特に、回路レベルからアーキテクチャレベルまでのイノベーションに関心を持ち、チップのテスト容易性、信頼性、可用性、保守性（RAS）、安全性、セキュリティ、計算レジリエンスといった重要な課題に取り組んでいます。

蘇飛教授1.jpg — 蘇飛氏は現在、清華大学集積回路学院の興華名誉教授を務めている。写真：*清華大学*

彼の研究は多くの市販チップ製品に応用され、業界に大きな影響を与え、3D チップ/チップレットテスト、アナログチップの機能安全性、スマートセンサーなどの分野で多くの国際特許を取得しました。

研究に加え、半導体分野における国際標準規格の策定にも積極的に携わり、多くのIEEE標準規格の策定に貢献しています。半導体研究コンソーシアム（SRC）傘下の多くの産学連携プロジェクトのアドバイザーを務め、2021年にはMahboob Khan Outstanding Industry Linkage Awardを受賞しました。また、IEEE Circuits and Systems Society Outstanding Young Author AwardやIEEE International Conference on VLSI Design Outstanding Paper Awardなど、数々の優れた科学論文賞を受賞しています。

蘇飛教授は、帰国の最大の動機は、学界と産業界を結びつけ、若い世代のエンジニアに刺激を与えたいという思いだと述べた。「絶えず変化する半導体・コンピューティング業界を勝ち抜くための道のりで、学生や若いエンジニアを導き、指導できることを嬉しく思います」と教授は語った。

蘇飛教授の復帰は、ますます激化する国際競争の中で技術的自立を推進している中国の半導体産業の活性化につながると期待されている。

米国を離れ帰国する中国人科学者の波：世界の研究地図を変える

近年、ますます多くの中国系一流科学者が米国を離れ、中国で研究を行っています。この傾向は、人材移動の大きな波とみなされており、世界の科学研究環境に大きな影響を与えています。

蘇飛氏に先立ち、世界有数の統計学者であり、ハーバード大学で長年教授を務めた劉軍教授が、2025年8月に清華大学の名誉教授に就任するために中国に戻った。劉教授は、この決断は政治的な要因とは関係なく、教育への愛と科学に貢献したいという思いから生まれたものだと断言した。